CMOS图像传感器是一种典型的固体成像传感器,通常由像敏单元阵列、行驱动器、列驱动器、时序控制逻辑、AD转换器、数据总线输出接口、控制接口等几部分组成这几部分通常都被集成在同一块硅片上。其工作过程一般可分为复位、光电转换、积分、读出几部分。在CMOS图像传感器芯片上还可以集成其他数字信号处理电路,如AD转换器、自动曝光量控制、白平衡处理等。为了进行快速计算甚至可以将具有可编程功能的DSP器件与CMOS器件集成在一起。在这个意义上,CMOS已经不仅仅是一个图像传感器,更可以被认为是一个图像处理系统。随着CMOS图像传感器的发展,出现很多细分种类。主要有三大类CMOS图像传感器,即CMOS无源像素 ...
量子级联激光器——从工具到产品(本文译自Quantum cascade lasers: from tool to product,M.Razeghi, Q. Y. Lu, N. Bandyopadhyay, W. Zhou, D. Heydari, Y. Bai, and S.Slivken)1.介绍自20世纪60年代激光发明以来,人们一直在追求一种更小、更便宜、更大功率、波长更灵活的激光源。作为半导体激光器,量子级联激光器(QCL)是一种能带工程器件,其电磁辐射是通过超晶格量子阱[1]内能级间的子带间跃迁来实现的。自1994年首次实验演示以来,QCL技术得到了巨大的发展。这些性能水平是结构设 ...
减少合成反铁磁体中Dzyaloshinskii-Moriya相互作用和无场自旋轨道转矩开关(本文译自Reducing Dzyaloshinskii-Moriya interaction and field-free spin-orbit torque switching in synthetic antiferromagnets,NATURE COMMUNICATIONS | (2021) 12:3113 | https://doi.org/10.1038/s41467-021-23414-3 | www.nature.com/naturecommunications) 介绍磁隧道结(MTJs ...
用于等效时间采样应用的空间多路单腔双光梳激光器1.介绍双光学频率梳(简称双光梳)[1]的概念在光频梳被提出后不久被引入[2-4]。在时域上,双光梳可以理解为两个相干光脉冲序列,它们的重复频率有轻微的偏移。自问世以来,双光梳光源及其应用一直一个重要研究课题[5]。双光梳光源与早期用于泵浦探测测量的激光系统有许多相似之处。特别是,利用两种不同重复频率对超快现象进行采样的想法,早在20世纪80年代就已经通过等效时间采样概念的演示进行了探索[6,7]。在这种情况下,通过frep/的因子,超快动态过程在时域中被缩小到更慢的等效时间。这里frep是采样频率,是采样频率与激发重频的差值。这个概念很快通过一对 ...
ACS Photonics July 21, 2021 Volume 8, Issue 7 摘要Terahertz Nano-Imaging of Electronic Strip Heterogeneity in a Dirac SemimetalRichard H. J. Kim,...Jigang Wang*Emerging topological semimetals offer promise of realizing topological electronics enabled by terahertz (THz) current persistent against impur ...
椭偏仪(一)-椭偏成像技术简介椭偏成像技术是一种在传统椭偏技术和光学成像系统基础上发展而来的,以charge coupled device (CCD)或 complementary metal-oxide-semiconductor transistor(CMOS)为探测器实现高横向分辨率的椭偏测量技术。随着各种技术的发展,传统椭偏测量技术已经无法满足测量要求。从根本的测量原理来看,传统椭偏测量技术测量时采用的是光斑照射区平均测试方法,分析的数据是全部光斑照射区域内样品待测参数的平均值,这不仅难以准确地检测分析小于光斑照射区域内待测对象的微小变化,对于待测参数分布不均匀的样品也会得到错误的结果 ...
Lumencor固态光源在材料科学中的应用农业及食品检测 Agriculture and Food Inspection检查食品、饮料及其相关包装需要具备获取和处理图像的能力,以获得有关尺寸、形状、颜色、缺陷和完整性等参数的信息。为此,关键是优化照明强度,均匀性和几何形状,以获得具有良好的对比度和信噪比的显微图像。此外,有机和无机材料的光吸收特性各不相同,这使得为这些应用选择合适的照明波长成为一项挑战。食品在包装之前,必须经过种植和收获。当然,光是植物生长的基础。Lumencor的固态照明技术在应对这些食品检验和质量控制挑战方面处于领xian地位。常用产品型号 SOLA、AURA、SPECTR ...
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(一)-基本原理利用椭偏仪可以精确测量薄膜的厚度和光学常数,其测量原理基于不同偏振光(S,P)与材料的作用。如图1-1所示的单层薄膜模型中,所测的薄膜在衬底上,zui上层为空气,薄膜两侧介质都是半无限大,且薄膜上下表面皆是理想光滑表面,三种介质皆为均匀、各向同性介质。在实际测量过程中,单层模型的三种介质通常指的是空气、待测薄膜和基底。图1-1 光波在多层膜上的反射与透射光波在单层膜上的反射和透射示意图如图1-1所示。定义入射光波矢量E在垂直于入射面上的分量为P光,在入射面上的分量为S光。由折射定律及菲涅耳定律知、、的关系为:上述式子中,n1是空气的折射率(1. ...
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二)-在位监控原理1.椭偏仪的在位监控半导体工艺比如CMOS的制作过程,会涉及到结构或者厚度的监控。例如在光刻前后,或者沉积与腐蚀过程,需要控制薄膜的厚度。而椭偏谱可以快速且无损伤进行测量,并且其测试精度可以达到原子级别,因此广泛应用于半导体制备工艺的在位监控中。比如,典型的32nmCMOS制做过程中大概会需要100次厚度的测试控制,而其中就有80次厚度测试需要利用椭偏谱对其厚度进行监控。通常要解构薄膜的厚度,会涉及到有效介质模型近似和Drude+Lorentz Oscillator模型的使用。利用椭偏仪不仅可以得到厚度信息,还可以得到薄膜的光学性质等信息, ...
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(三)-应用案例1.3应用案例椭偏仪在位监测已经广泛应用于薄膜生长、颗粒和生物大分子的吸附等领域。下面介绍一下椭偏仪在位监测在薄膜生长和颗粒方面的案例。1.3.1薄膜生长椭偏仪对厚度的无损测量使其可实现薄膜生长的实时监控。而不同时间生长时间其薄膜的性质及厚度不同,这样需要构建不同厚度的多层膜结构,从而实现在位监控,得到薄膜生长厚度随时间的变化信息。比如F.N.Dultsev等采用椭偏仪研究了沉积在硅表面的钛基体氮化机理、Yuki Ishikawa等采用原位椭偏仪研究了离子液体薄膜的玻璃化转变行为,Meng Yuan等提出了一种简便、无损伤的在位椭圆偏振法来监测 ...
Pulse Rider系列 高速脉冲发生器Pulse Rider系列是一系列高质量具有快速上升时间的脉冲发生器,可提供优质的脉冲信号并且易于使用的触摸屏显示界面(SimpleRider™)。高速脉冲发生器-Pulse Rider的脉冲产生仅需几次触摸即可。高速脉冲发生器-Pulse Rider创新的硬件架构提供了生成多个脉冲序列的可能性,例如双脉冲、三脉冲或四脉冲,具有完全独立的定时参数。高速脉冲发生器能够产生具有快速上升和下降时间以及高压幅度的高带宽脉冲。PG-1000 提供 5 Vpp 脉冲幅度和 70 ps 的上升和下降时间。快速脉冲发生器能够产生具有快速上升和下降时间以及高压幅度的高带
光纤束我们提供各种光纤束,并根据要求为客户定制各种光纤束。可选的标准接口及护套铠甲。40,000小时不间断测试实验表明我们光纤束可以长期保持透过率稳定。此外,传统的光纤束均采用环氧胶来交合光纤,这一方式使光纤束的传输效率变低,我们PowerLightGuide FUSED-END BUNDLES 抗紫外光纤束(Optran® UVNS光纤)则采用输入端熔融工艺从而减小光纤间的空隙,极大的提供光纤束的透过效率。在保持光纤的NA不变的情况下,PowerLightGuide FUSED-END BUNDLES传输效率提高50%。因为不含任何环氧胶,PowerLightGuide FUSED-END
时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)飞秒激光时域热反射测量技术,即Time-domain Thermoreflectance, TDTR 是一种基于飞秒超快激光抽运探测(pump-probe)技术的导热测量技术。相比于其他导热测量技术,目前TDTR技术因其可以测量纳米薄膜热导率和界面热阻以及非接触式测量特性而具有独特优势。我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)通过利用飞秒激光照射样品表层金属薄膜,令薄膜吸收
超高速显微拉曼成像光谱仪RIMA激光拉曼显微成像系统是高精度、面成像激光拉曼技术,具有速度快,功率密度低等特点!由Photon公司开发的整视场高光谱拉曼成像仪(RIMA™)可对大面积(1 mm x 1 mm及更大)的材料进行快速光谱和空间表征。 该设备与高分辨率的高光谱结合,采用面成像技术,将激光扩束后,用特殊的光学元件将扩束后的高斯分布的激光整形成均匀分布的平顶激光,照射在样品上,滤除反射的激光后,所有激发的拉曼光和再通过可调滤波器为主的高光谱成像组件,成像在ccd上,可在几分钟内完成,以像元为单位,可以形成高达十万组拉曼光谱数据。是目前市面上相对快的拉曼成像设备. RIMA™捕获整个视场的
柔性石英毛细管柔性石英毛细管具有一系列的特性,是诸如气相色谱仪、毛细管电泳仪及毛细管液相色谱仪的必备材料之一。它也是新近商品化的微流体仪器的关键部件。石英毛细管的各段之间或各批次之间在内径上的准确性是没有其它材料器件能够与其相媲美的。随着各种技术的不断微型化,毛细管将扮演越来越重要的角色。新型微流体器件与现有常量样品处理平台之间的接口连接就是一个很好的例子。另一个较贴切的例子是微型化的毛细管液相色谱(即纳米液相色谱)的进样阀、色谱柱及检测器之间的连接管。Optube 柔性毛细管(flexible silica capillary tubing)可在400 °C环境下正常工作(Optube CT
X射线探测器以热电冷却的Si-Pin光电二极管作为X射线探测元器件,根据不同探测器类型和峰化时间,55Fe的5.9KeV峰值分辨率可达145eV; FAST SDD 探测器峰值分辨率更可达122eV。XR-100系列探测器型号探测器材料探测器面积探测器厚度铍(Be)窗 厚度备注XY-FSG32MD-G3SPSi-PIN6 mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FS432MD-G3SPSi-PIN13mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FSJ32MD-G3SPSi-PIN25mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FSG32MD-G2SPSi-PIN6mm2500 μm
超小型USB工业相机 MU9PM-MH带超小型外壳的迷你摄像机(15 x 15 x 8 mm)低功耗-低于1瓦500万像素黑白CMOS微型摄像头,带USB接口GenTL / GenICam扁平带状柔性电缆,适用于嵌入式视觉系统xiMU系列是什么样的产品?xiMU是一个chao小型USB工业相机系列,具有突出的功能:•难以置信的小:世jie上zui小的USB 2.0和USB3.1第1代摄像头,支持GenICam/GenTL。•低功耗•可触发,完全工业级•传感器:OnSemi 5MPixel MT9P031和OnSemi 18MP Pixel AR1820HS。•帧速率:USB2.0版本zui高可
ASOPS 成像系统/异步光采样成像系统有电子零件的小型化和薄型化一直是当今时代的趋势。然而,纳米科学和纳米技术在 60 年代仍然是科幻小说,1974 年首次使用纳米技术这个词。同时,原子力显微镜 (AFM) 和扫描声学显微镜 (SAM) 被开发出来。今天,纳米技术代表着巨大的投资——甚至来自政府——以及价值数千亿欧元的市场。纳米尺度的无损检测是这里的目的。超声波广泛用于航空工业或医学超声检查。在这种情况下达到的空间分辨率大约是毫米,当我们谈到纳米技术时,这已经是一百万倍了。SAM 系统得益于 MHz/GHz 超声波的更高清晰度,市场上发现的小轴向分辨率低于微米。纳米还需要再低 2 到 3 个
半导体可饱和吸收体目前,可饱和吸收体产品包括:SAM半导体可饱和吸收镜(Semiconductor Saturable absorber mirror)、SA 可饱和吸收体(Saturable Absorber in transmission)、RSA 谐振饱和吸收器(Resonant Saturable Absorber in transmission)、RSAM共振可饱和吸收镜(Resonant Saturable absorber mirror)、SANOS 可饱和噪声去除腔(Saturable Noise Suppressor)。 我司所提供的可饱和吸收产品,可以覆盖620nm到3.5
皮秒脉冲发生器+放大器上海昊量光电设备有限公司推出一系列脉宽为30~1000ps皮秒信号发生器,其中LPP-100和LPP-200是两款能够产生皮秒级上升/下降沿的信号发生器,其能够对满足要求的输入信号进行变换,进而可输出皮秒级上升/下降沿皮秒脉宽电信号,可应用在增益开关半导体激光器、脉冲雕刻、数字梳产生、光闸等系统中,其中LPP-100输出脉宽固定,LPP-200输出脉宽可调。LRA-100是一款信号放大器,其能够对输入皮秒脉冲进行功率放大,可搭配我们的皮秒电信号发生器使用LPP-100皮秒脉冲发生器主要特征:LPP-200皮秒脉冲发生器主要特征:1) 较短上升/下降时间:15ps1) 可调
Film-Sense多波长椭偏仪上海昊量光电推出的多波长椭偏仪采用长寿命的LED光源,可分别提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm、660nm、850nm、950nm六种不同波长,并使用无移动部件的椭偏仪,紧凑的系统提供快速可靠的薄膜测量。通过1秒的测量可以精确的测量0-5000nm的大多数透明薄膜的厚度。并可以获得n和k等光学常量。相比于单波长椭偏仪,多波长椭偏仪可测定薄膜厚度,对于透明薄膜测量厚度至少可达5μm,不存在厚度周期性问题;可确定样品其它其它参数特性例如薄膜粗糙度、多层膜厚度等;对数据分析提供检测依据,一个良好的分析模型应该适用于不同波长的数据
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